简介： 本发明公开一种参考单元替换方法、装置及存储介质，其中，参考单元替换方法包括接收擦除操作指令；测量参考单元的输出电流，当所述参考单元的输出电流与所述参考单元的设计电流不同，对所述参考单元执行替换操作；根据所述擦除操作指令执行擦除操作。本发明实施例中，当接收到擦除操作指令，存储芯片执行擦除操作之前，对参考单元的进行检测，并对出现问题的参考单元进行替换，可以有效解决参考单元随着存储芯片的使用时间增长而逐渐失效的问题，提高存储芯片的可靠性；另一方面，相对于读写操作来说，擦除操作花费的时间较长，因此选择在擦除操作前进行参考单元检测，可以避免检测过程对存储芯片的读写速度的影响。