简介： 本发明涉及一种快速估算集成电路良率的计算方法，包括：根据待分析集成电路中电路单元内的元件或者关键元件确定输入的原始参数变量并正交化，所述参数变量的个数Y为对电路特性最敏感的工艺参数的数量；由归一化高斯分布的原始采样点确定rmax，使其在Y维空间的chi分布的累积分布函数值等于设定的采样精度；在半径为rmax的超球体内获取均匀分布的M个采样点；基于M个采样点计算所述电路单元的失效概率。这种快速估算集成电路良率的计算方法，在失效区域的搜索上更加准确可靠，仿真研究结果表明：在效率，精度和失效区域搜索上有良好的折中，能快速有效估计数字电路的良率，大幅提高效率。