半导体存储装置
首页 企业 产品 技术 资讯 图库 视频 需求 会议 活动 产业
半导体存储装置
来源:北方有色网
访问:1291
简介: 设置了在使扰动测试信号(TESTUBBS)和自刷新信号(/BBU)激活时使小电压值检测器(38)激活而且可使大电压值检测器(36)失效的切换电路(40)。因此,不仅在扰动测试方式时,而且在自刷新方式时,由基板电压发生电路(34)发生与小电压值检测器(38)的检测电压值相等的低的基板电压(VBB)。结果,能够防止因增设小电压值检测器(38)而导致的面积的增大。
设置了在使扰动测试信号(TESTUBBS)和自刷新信号(/BBU)激活时使小电压值检测器(38)激活而且可使大电压值检测器(36)失效的切换电路(40)。因此,不仅在扰动测试方式时,而且在自刷新方式时,由基板电压发生电路(34)发生与小电压值检测器(38)的检测电压值相等的低的基板电压(VBB)。结果,能够防止因增设小电压值检测器(38)而导致的面积的增大。
0
0
0
0
0
         
标签:失效分析
广州铭谦选矿设备有限公司宣传
广州铭谦选矿设备有限公司宣传
相关技术
评论(0条)
200/200
牛津仪器科技(上海)有限公司宣传
发布
技术

顶部
北方有色网-互联网服务平台-关于我们
Copyright 2025 China-mcc.com All Rights Reserved
备案号:京ICP备11044340号-3
电信业务经营许可证编号:京B2-20242293
京公网安备 11010702002294号