简介： 本发明公开了使用实际的半导体装置能高速且可靠地检测出关键路径的关键路径探索方法和探索系统。将预定的数据输入到半导体装置中之后到输出与其对应的数据为止的工作时钟数目定为n,按顺序将该n个工作时钟的每一个的周期从失效周期变更为通过周期,进行关键路径的探索。