简介： 本申请公开了一种集成芯片的控制方法，其中，集成芯片中设置有模拟控制电路，该方法包括：对集成芯片进行检测；当集成芯片失效时，则利用模拟控制电路对集成芯片中的模拟电路模块进行控制。显然，通过这样的设置方式不仅能够避免集成芯片中的模拟电路模块由于集成芯片失效而出现的不可控现象，而且，也可以推测出集成芯片产生失效的原因，此时通过对导致集成芯片发生失效的信号进行控制，就可以保证集成芯片的正常运行。相应的，本申请所提供的一种集成芯片的控制装置、设备及介质，同样具有上述有益效果。