简介： 本发明公开了一种电子装备多因素加速因子计算方法，包括：针对影响电子设备寿命的不同因素，分别构建单点应力损伤模型并且计算得到对应的加速因子；基于电子装备的特点以及单点应力损伤模型，构建整个电子装备基于竞争失效的故障模型；基于构建的竞争失效故障模型，根据统计等效原则计算得到电子装备的加速因子。该方法针对于当前设备结构及失效模式复杂的电子装备，通过在温度、湿度、振动及电应力及其组合等各种应力条件下的失效机理和失效形式进行分析并构建相应的应力失效模型，能够根据不同因素及故障模型，相应根据系统的寿命模型得到电子装备的加速因子，完全适用于整机装备的加速试验，进而使得电子装备的加速试验更加准确、可靠。