简介： 本发明公开了一种考虑碳膜电阻器退化初值的可靠性评估方法，碳膜电阻器的可靠性分析领域，尤其针对碳膜电阻的伪失效寿命计算。将退化初始值的随机性引入到传统退化轨迹模型里面，并且计算样本退化数据的拟合残差平方和，制定择优准则令拟合残差平方和最小为最优退化轨迹模型，随后求出该退化轨迹模型的伪失效寿命，提升了后续可靠性分析的估计精度。