简介： 本发明涉及一种关于IC高压损伤模拟系统及方法，所述系统包括控制装置、电压装置、电压脉冲源装置及检测装置；所述控制装置连接于电压装置及电压脉冲源装置，所述控制装置用于控制电压装置及电压脉冲源装置；所述电压装置用于为待检测IC提供工作电压；所述电压脉冲源装置用于向待检测IC的待测引脚输出电平脉冲；所述检测装置用于采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。通过对待检测IC进行高压损伤模拟，形成每颗IC特有的数据库，而当发生IC失效时，将失效数据导入到数据库中进行比对，就可以反推出导致损伤的电压状态以及路径，实现追根溯源，及快速定位失效源头，提高终端问题的解决效率。