简介:
本发明提供一种SMT元件资料数据管理方法、资料库、介质及设备,SMT元件资料数据的管理方法包括:获取物料参数修改时间,和/或封装参数修改时间;生成物料修改分析结果和/或封装修改分析结果;根据所述物料修改分析结果和/或所述封装修改分析结果在所述SMT元件资料库中标记失效数据,更新所述失效数据的物料参数和/或封装参数;基于更新后的所述物料参数和/或所述封装参数,对所述失效数据进行校验及修改时间的更新。本发明通过时间比对的引入、相关时间的一系列更新,实现了SMT元件资料数据的动态管理。
本发明提供一种SMT元件资料数据管理方法、资料库、介质及设备,SMT元件资料数据的管理方法包括:获取物料参数修改时间,和/或封装参数修改时间;生成物料修改分析结果和/或封装修改分析结果;根据所述物料修改分析结果和/或所述封装修改分析结果在所述SMT元件资料库中标记失效数据,更新所述失效数据的物料参数和/或封装参数;基于更新后的所述物料参数和/或所述封装参数,对所述失效数据进行校验及修改时间的更新。本发明通过时间比对的引入、相关时间的一系列更新,实现了SMT元件资料数据的动态管理。