简介： 本发明公开了一种砷化镓单片微波集成电路的可靠性评估方法,它包括如下步骤:对砷化镓单片微波集成电路进行分析从而获得与芯片有关的失效率和与封装及外部环境有关的失效率;根据所述与芯片有关的失效率和与封装及外部环境有关的失效率之和评估砷化镓单片微波集成电路的可靠性程度。本发明为砷化镓单片微波集成电路的失效率水平和可靠性评估提供了准则,为确定砷化镓单片微波集成电路可靠性指标,开展电子设备可靠性预计提供依据。