简介： 本发明实施例公开了一种位线的筛选方法、装置、存储设备和存储介质。所述方法包括：对相互独立的每一个待检测区域中所有位线以间隔施加相同电压的方式施加设定时间的第一检测电压和第二检测电压，对每一个待检测区域中的所有字线施加设定时间的截止电压；对每一个待检测区域进行检验编程操作，使每一个待检测区域中任意相邻的两个存储单元存储的数据均不同；校验每一个待检测区域中所有存储单元的存储数据是否与检验编程操作匹配；将存储数据与检验编程操作不匹配的存储单元对应的位线确定为失效位线。本发明实施例的技术方案解决了现有的失效位线检测方法难以检测出潜在失效位线的技术缺陷，实现了一次性快速、准确地检测出全部失效位线。