射频前端模块量产不良芯片分类方法和系统
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射频前端模块量产不良芯片分类方法和系统
来源：北方有色网
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简介： 本发明提供了一种射频前端模块量产不良芯片分类方法，其能够根据不良品的测试数据进行分类，从而对不同风险等级的类进行管控分析，提高了风险失效的探测率，进而提高了产品的出货质量。
本发明提供了一种射频前端模块量产不良芯片分类方法，其能够根据不良品的测试数据进行分类，从而对不同风险等级的类进行管控分析，提高了风险失效的探测率，进而提高了产品的出货质量。
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标签：失效分析
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