简介： 本发明涉及一种仪器电控设备加速退化试验方法，首先根据仪器电控设备试验样品的原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测，然后合理地设置加速退化试验条件，在进行加速退化试验置换，再对试验所得的失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。