简介： 本发明公开了一种微波介质振荡器贮存寿命评估方法，包括：对微波介质振荡器长期贮存的退化机理、敏感应力及敏感参数进行调研分析，确定微波介质振荡器的长期贮存退化机理、敏感应力及敏感参数。通过对微波介质振荡器退化机理、敏感应力及敏感参数等的分析，设计并实施温度步进应力加速退化试验，并基于退化轨迹建模的评估方法对不同温度应力下的退化数据进行处理，结合阿伦纽斯模型，可以外推得到常温贮存条件下样本的伪失效寿命；对伪失效寿命进行分布类型检验，并结合工程经验确定寿命分布类型及分布参数，最终可以给出微波介质振荡器长期贮存后的可靠度指标。