简介： 本发明公开了一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，涉及电路产品测试性设计领域，包括待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件，该方法还包括以下步骤：获取所述电子信息装备的失效率记为λ_s及所述电子信息装备内BITE装置及监测电路总的失效率记为λ_n；获取所述电子信息装备的任务持续时间t_s；计算在所述任务持续时间内发生虚警的概率P_A；计算在所述任务持续时间内发生的BIT虚警率γ_FA；本发明提供了一种有效的方法，使电子设备在设计阶段能对产品的BIT虚警率进行量化评估，以提升电子信息装备的测试性设计水平。