简介： 本发明提供了一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法，对采用SRAM型FPGA实现的电路进行故障注入，通过持续向电路中注入随机地址和随机类型的单粒子翻转故障，模拟地面辐照试验中入射粒子LET值、注量率Flux和注量Fluence等参数对电路的影响，对电路加固设计的有效性进行定量评估。本发明可获取电路动态翻转截面随LET值变化的特性曲线，预估其在轨失效率。