简介： 本发明提供了一种基于微元化物理模型的电缆寿命预测方法，将电缆试样分别在90℃、110℃和130℃下进行热老化实验，在不同老化时间下取样测量其断裂伸长率保留率数值，再将实验所得数据代入建模方程，得到不同的t0和v值，对t0和v值进行数据拟合，以确定最佳拟合值。对三组不同温度下对应的t0和v值再进行数据拟合，分别得到t0和v关于温度的函数关系，回带建模方程，得到断裂伸长保留率关于温度和时间的函数。本发明将失效标准的力学参数断裂伸长率保留率作为时间和温度相关的函数，一方面可以代入断裂伸长率保留率为50％时，求出电缆在额定工作温度下的电缆寿命，一方面也可直观显示绝缘材料性能受温度和老化时间影响的下降趋势。