简介： 本发明涉及一种二极管正向压降的测试方法，通过三步测量不同设计安培下的正向压降，并经过公式计算，显著地减轻了探针台上电阻对测量结果的影响，并且不同的设计安培下正向压降的计算，辅以修正参数，能够得到有效的准确的数值作为二极管通过和失效的依据。