简介： 本发明公开了一种嵌入式EEPROM的“读”测试基准建立方法，基于EEPROM标准Cell的读电流通过比例分割产生一组读基准电流，扫描比例分割参数的同时测试各基准电流配置下的EEPROM失效比例，间接测得EEPROM的读窗口；基于已得的读窗口数据，结合产品工艺可控参数及EEPROM的可靠性考核结果，得出最终的EEPROM“读”测试基准；以此保证成品品质及圆片制造的工艺冗余度，同时降低产品的生产成本。