简介： 本发明涉及一种半导体激光器功率测试装置及其使用方法，属于半导体激光器测试技术领域。装置包括底座、激光器插座、滑轨和功率测试头，其中，底座一侧设置滑轨，滑轨上滑动连接测试支撑杆，测试支撑杆上端设置功率测试头，滑轨上设置机械按压开关，底座另一侧设置插座支撑杆，插座支撑杆上端设置激光器插座，激光器插座导线连接至机械按压开关，激光器插座内设置激光器。本发明在不改变正常生产工序的情况下，避免激光器拔插测试时受到瞬间大电流冲击失效，同时通过快速调整功率测试头测试位置和减少电源开关时间提高工作效率。