简介： 本实用新型公开了一种散芯片自动排列测试筛选设备。本实用新型中排列装置包括振动盘，所述振动盘内设置有芯片放置区和振动轨道，所述振动轨道一端与芯片放置区连通，另一端与输送装置连通，所述振动轨道上设置有与振动轨道成一整体的分选段轨道，所述分选段轨道的厚度小于振动轨道的厚度；所述测试装置包括设置在输送轨道上的测试区，测试区处设置有与处理器连接的感应器，测试区上方设置有由驱动装置带动运动的测试探针，测试探针连接到测试仪，测试仪和驱动装置分别与处理器连接。本实用新型使GPP芯片根据要求自动按P面或N面排列，避免人工操作原因导致的芯片破损失效，排列后进行自动测试，保证芯片质量，避免芯片损坏和沾污。