简介： 本发明公开了一种多颗Norflash样品同时测试的方法，基于测试平台实现，所述方法包括：将多颗样品连接到测试平台，进行布线分配正确性测试；在布线分配正确性测试通过后，基于测试平台的内部语言代码对同时进行擦除的所述多颗样品进行循环判断获取擦除信息；在所述多颗样品进行擦除完毕后，基于嵌入测试平台的外部语言代码获取每颗样品的擦除时间和失效的存储单元的地址以及执行错误样品的停测，本发明可以对多颗样品同时测试，提高芯片的验证效率，能及早根据多个样品的测试结果得出正确的结论，效率是现有程序的多倍，能及早发现问题解决问题。