简介： 一种对同步动态随机存储器自测试的方法及其装置,在系统正常工作之前对SDRAM进行自测试,其方法为:启动同步动态随机存储器SDRAM自测试,系统切换到自测试模式下;CPU将数据写入自测试模块的第一双端口RAM;仲裁模块从所述第一双端口RAM中读取数据并写入SDRAM;仲裁模块从SDRAM中回读数据并写入自测试模块的第二双端口RAM中;CPU从所述第二双端口RAM中读数据,并对写入和读出的数据进行比较,以判断SDRAM是否工作正常;在自测试工作完成后,系统切换到正常工作模式下,实现业务的恢复。本发明增加了系统的可靠性,并且通过对SDRAM进行自测试可以判断SDRAM是否失效,从而增加系统的可维护性。另外,逻辑实现也比较简单,不额外增加系统的复杂度。