简介： 本发明实施例提供了一种测试存储器的方法和装置，存储器包括自测试控制器，方法包括：将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器；通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。本发明实施例不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。