简介： 本发明提供一种基于测试向量的测试系统，实现对数字集成电路的功能测试，功能测试主要测试芯片在一定时序下的逻辑功能，其基本原理是借助于测试向量，对芯片施加激励，观察其响应是否和设想的一致。功能测试可以覆盖极高比例逻辑电路的失效模型。该调试技术支持单步测试系统包括两大部分：运行于PC机的测试向量文件转换软件和数字集成电路芯片测试机组成。数字集成电路芯片测试机由CPU+FPGA的架构组成，CPU负责pattern文件存储、转换，测试过程控制、与主机通信等功能。pattern控制的逻辑电路由一块FPGA实现，FPGA完成波形产生、Pattern？RAM的控制和采样控制，同时控制驱动器及比较器以实现对被测对象的测试控制。