简介： 一种测试被测试存储器的测试装置,该被测试存储器具有复数块和修复用列;该测试装置具有:测试部;标志存储器,其存储表示各列是否良好的标志;计数存储器,其存储各列的不良块数;失效写入部,其以至少满足测试结果为不良,以及对应的列的标志存储器内的标志显示不良中的某一方为条件,将显示不良的标志写入标志存储器;计数部,其以测试结果为不良,且对于对应的列,标志存储器内未存储显示不良的标志为条件,累加对应的列的计数存储器的块数量;选择部,其根据各列的不良块数,选择应置换为修复用列的列。