简介： 本发明公开了一种带存储单元的集成芯片复测方法，在每个关键节点对存储单元写入标志位来标记该节点测试项的通过或失效；读取每个关键节点的标志位决定是否进行该节点测项测试及之后测试内容。本发明能够最大限度保证测试结果的准确性及减少复测时间。