简介:
本发明提出了一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法,包括以下步骤:根据具体测试应用状态,确定校准和测试所包含的全部测试通道及其各基本组成单元,并以此进行相应多维条件映射散射参数的校准数据配置;根据具体测试应用配置信息,控制系统配置各测试仪器设备进行自校准;根据具体测试应用要求,当校准数据配置全部完成时,进行微波自动测试系统的测试应用,并根据校准数据实时进行误差修正,以获得测试准确度较高的测试结果。本发明有效解决自动测试过程中由于测试通道复杂以及非常规要求等原因,导致通用测试仪器自身校准测试性能受限所造成测试准确度下降甚至测试失效的问题。
本发明提出了一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法,包括以下步骤:根据具体测试应用状态,确定校准和测试所包含的全部测试通道及其各基本组成单元,并以此进行相应多维条件映射散射参数的校准数据配置;根据具体测试应用配置信息,控制系统配置各测试仪器设备进行自校准;根据具体测试应用要求,当校准数据配置全部完成时,进行微波自动测试系统的测试应用,并根据校准数据实时进行误差修正,以获得测试准确度较高的测试结果。本发明有效解决自动测试过程中由于测试通道复杂以及非常规要求等原因,导致通用测试仪器自身校准测试性能受限所造成测试准确度下降甚至测试失效的问题。