简介： 本发明涉及一种半导体量产测试中数据标识方法，机械手平台将半导体成品从标记为T的待测料盘区取出放入测试机内进行测试，测试完成后机械手平台将测试完的半导体成品放回原先取出的料盘区位置；数个待测料盘叠放高度方向设定为Z轴，每个料盘第一排测试的半导体成品方向为X轴，料盘另一方向为Y轴，层叠的料盘中任意一个半导体成品用XYZ坐标定位置，自动测试机与机械手机进行通讯，保证每个料盘中的半导体成品具有唯一的对应关系，解决了半导体成品自动测试中混料、分料、测试数据和实际测试半导体成品无法对应的问题，实现自动量产按照相应失效项进行有效分料和数据对应，提高机台适用能力。