简介： 本发明提供一种晶圆测试图的显示方法及系统，包括获取晶圆抽样测试后晶圆上若干芯片的属性文件，接着通过一预设算法对所述属性文件进行修正处理，获取所述晶圆上的若干芯片的修正文件，然后根据所述修正文件生成修正晶圆测试图并进行显示。本发明通过修正晶圆上若干芯片的属性文件，减少晶圆上相邻测试芯片之间的距离，弱化未测试芯片的存在感，以增大测试芯片在设定晶圆测试图显示区域内的显示面积，使已测试的芯片在晶圆测试图中突出显示，便于观察。另外，由于集中显示了测试芯片，便于观测测试芯片中失效芯片的整体分布情况。