简介： 本发明公开了一种半导体激光器芯片的测试系统，包括测试柜、测试电源、冷却子系统、稳定监控子系统和计算机处理子系统；测试柜包括装载平台，多个待测试的芯片组件放置在装载平台上；测试电源用以多个待测试的芯片组件提供测试电流；冷却子系统用于向装载平台提供循环冷却液体，以为芯片组件的测试提供稳定可靠的温度；温度监控子系统用于监控装载平台和循环冷却液体的温度；计算机处理子系统用以控制冷却子系统提供具有稳定可靠的温度的循环冷却液，并根据温度监控子系统所监控的结果，向测试电源发出相应的控制指令。通过上述方式，本发明能够高测试的安全性，避免因半导体激光器芯片组件意外失效带来的损失。