简介： 本发明涉及一种LED光源寿命加速测试系统及方法，其中该系统包括样品分组装置、第一结温测试装置、加温装置、第二结温测试装置、寿命测算装置和加温测试装置。本发明在保持驱动电源失效机理不变的条件下，通过提高其工作温度应力的方法来加速失效发现其潜在的缺陷，并根据阿氏加速理论中的加速寿命试验模型及引入置信度推断出其在正常温度应力水平下寿命，比传统的设计和试验以快得多的速度使产品达到在设计和工艺上成熟，从而缩短研制过程总时间，得以早日投放市场，抢占市场份额，产品设计和工艺成熟快，产品研制和生产成本更低。