简介： 本发明公开了一种闪存的可靠性测试方法，该方法通过两次测试步骤来对闪存进行筛选，第一次测试步骤直接筛选出不良品，将不能判定为不良品的闪存作为待确认良品，以便在第二次测试步骤中对该待确认良品进行进一步的测试，经过两次测试之后才筛选出真正的良品，提高了可靠性测试方法的准确度。另外，两次测试步骤中均对闪存施加电压应力，正确模拟了闪存在25℃（室温）条件下使用10年时所承受的正常应力条件，因而能够利用电压应力来激发闪存在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，进而能够利用该可靠性测试方法来对失效反应活化能较低的闪存进行筛选。