简介： 本发明揭示了一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备。其中，一种存储设备测试和自动分BIN的方法，包括：测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息，将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。自动分BIN机台根据测试结果信息，分别将三种类别的存储设备转移至对应的第二承载板，避免装有存储容量合格的第二承载板中，混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备。通过机器测试和分类的方式，大幅提高测试和分类存储设备的速度。通过上述操作，与现有技术相比，大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度，以及大幅降低存储设备分类出错的概率，从而提高存储设备测试效率和分类效率。