简介： 本发明提供一种存储器装置及其内置自测试方法，所述存储器装置包括自测试电路、存储单元阵列、电源电压产生器与列冗余地址替换电路。自测试电路，用以产生自测试数据信号与电源电压控制信号。存储单元阵列接收自测试数据信号并输出自测试失效信号。电源电压产生器依据电源电压控制信号产生电源电压。列冗余地址替换电路接收电源电压与自测试失效信号以提供冗余字线地址至存储单元阵列。电源电压产生器被配置为使电源电压在内置自测试模式小于一般模式。