简介:
本发明公开了一种输入输出端口的测试方法,该测试方法通过将嵌入式系统所有的输入输出设备的端口测试拆分为多次执行的单端口测试,每次端口测试仅针对一个待测端口进行:对输入输出设备的一个待测端口传输测试信息,回采待测端口的测试信号及该输入输出设备的其他非待测端口的正常信号,通过对待测端口回采的信号和非待测端口回采的信号进行异常判断,从而确定该待测端口是否存在静态失效或串扰失效。采用本发明测试方法简单易行,且能有效实现多周期执行,不影响系统正常运行。
本发明公开了一种输入输出端口的测试方法,该测试方法通过将嵌入式系统所有的输入输出设备的端口测试拆分为多次执行的单端口测试,每次端口测试仅针对一个待测端口进行:对输入输出设备的一个待测端口传输测试信息,回采待测端口的测试信号及该输入输出设备的其他非待测端口的正常信号,通过对待测端口回采的信号和非待测端口回采的信号进行异常判断,从而确定该待测端口是否存在静态失效或串扰失效。采用本发明测试方法简单易行,且能有效实现多周期执行,不影响系统正常运行。