简介： 本发明提供一种单元寿命服从威布尔分布时k/n(G)系统的剩余寿命预测方法，首先随机抽取N个k/n(G)系统组成单元的样品进行寿命试验，获得各样品的失效时间，估计各样本的失效时间的失效概率；基于水平误差函数计算k/n(G)系统组成单元寿命分布参数的点估计；根据k/n(G)系统组成单元寿命分布参数的点估计预测k/n(G)系统的剩余寿命。本发明通过上述步骤很好地解决了单元寿命服从威布尔分布时k/n(G)系统的剩余寿命预测问题，且步骤简单，结果清晰，易于操作。