简介： 本发明提供了一种电子产品实时可靠性的预测方法基于贝叶斯方法和伪失效寿命，在更为恰当地估计先验分布中的未知参数和选择实时可靠性公式的基础上计算出当前电子产品实时可靠性。首先运用曲线拟合推出n个伪失效寿命，再选择正态分布来表示n个伪失效寿命数据的分布，接着借助时间序列样本生成法，估计出分布中的未知时变参数均值μj0及方差σj0，得到先验密度函数，然后根据现场数据xj可以更新时变参数并得到时变参数的后验密度函数的均值μcj和方差σcj2，最后利用本发明设计的实时可靠性公式计算当前电子产品的实时可靠性。通过实验验证，本发明电子产品实时可靠性的预测方法对电子产品实时可靠性的预测精度高，能准确地对电子产品的实时可靠性进行预测。