简介： 本发明涉及一种微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法，该方法步骤如下：通过现场暴露试验，确定纯银触点材料样品腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系，根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间。本发明采用腐蚀产物膜厚作为指标能灵敏反应样品不同程度的腐蚀状况，只需通过较短周期的现场暴露试验确定腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系，即可根据达到失效状态时的电阻增量，准确预测出现失效现象的暴露时间，本发明方法解决了现有方法周期长、准确率不高的问题。