简介： 本发明公开了一种集成电路自动控制测试方法，为一种机械结构和算法的结合，首先需要对handler内部进行结构的改造，增加失效复测区(E)和一移动机械臂(F)，将需要复测的BIN放置由原来位置移动到失效复测区域，在完成第一次测试后，将失效复测区域的芯片通过机械臂又放置在待测区域，从而实现自动复测的目的，减少人工重新放置和测试机停机的时间。