简介： 本申请实施例提供一种确定芯片异常测试工况的方法、装置、系统及相关设备，其中方法包括：获取多个芯片组中至少两个目标芯片组的测试数据，一个芯片组的测试数据包括用于测试的测试工况，以及在测试工况下进行多次测试对应的芯片失效数据；基于各个目标芯片组的测试数据，分别确定各个目标芯片组的芯片失效数据随测试时间变化的关系数据；基于各个目标芯片组的关系数据，从至少两个目标芯片组中确定异常芯片组，将异常芯片组的测试工况确定为异常测试工况。本申请实施例实现了高效、准确的确定芯片的异常测试工况，能够为实现准确的芯片失效测试提供基础。