简介： 本发明公开了一种利用半导体测试仪读取芯片信息的方法,序列图形发生器产生图形值并写入图形真值表中,数据比较器根据图形值输出X结果到数据失效存储器,输出Y结果到数据失效存储器;通过测试程序设置数据选择器,设定数字采集器各比特位与芯片测试通道的链接;再把数据失效存储器中的X结果、Y结果值通过数字采集器中的异或逻辑门生成数字采集器的采集使能信号,用来控制将H结果或L结果值传入数字采集器的存储器中同该芯片测试通道对应的存储区间;最后通过后台处理将数字采集器存储器中的数据传入指定的数组变量中。通过本发明的方法可以利用半导体测试仪同时对多颗芯片的信息进行读出操作,并节省测试时间。