简介： 本发明公开了一种基于退化曲线相似度的射频电路健康度预测方法，先根据预定的退化参数确定测量的信号参数，然后训练得到各个信号参数对应的失效临界态的隐马尔可夫模型，将实际测量的各信号参数幅值输入失效临界态隐马尔可夫模型，计算得到实际数据对应状态相对于失效临界态的KL值，得到退化参数的KL值曲线K1，然后拟合得到拟合曲线K2，通过理想退化仿真得到理想退化数据KL值的理想曲线K3，根据到理想曲线K3的欧式距离计算曲线K1和曲线K2的相似度，计算参照KL值F0，最后根据拟合曲线K2计算得到预测时刻的KL值F1，得到健康度，然后根据相似度得到预测时刻的最终预测健康度。经过实验验证可知，本发明可以实现电子产品健康度的准确预测。