简介： 本发明提供了一种芯片筛选测试的方法，包括：建立芯片测试的智能学习模型；将每个所述芯片的待测试参数进行分类，并将所述待测试参数按照分类号依次排列；按照排列好的顺序依次测试所述待测试参数，将测试结果使用智能学习模型进行处理，预测各个待测试参数失效的概率，将概率最大的待测试参数的分类号提到排列顺序的前列，以使得概率最大的待测试参数优先测试。本发明通过智能学习模型将目前已经测试的待测试参数的测试结果经过处理输出待测试参数的失效率，将失效率大的测试参数提到前列，在之后的测试过程中优先测试，可以减少芯片的测试时间，提高芯片的测试效率。