简介： 本发明公开了一种基于神经网络的芯片筛测方法，利用芯片的S参数测试数据，通过神经网络公式计算和S参数比较，拦截具有早期失效风险的异常芯片，避免其成为合格品，相较于现有人工筛选芯片的方法，主观性较小，可靠性高。本发明在芯片的量产测试阶段，在原有的测试平台上增加了芯片筛选测试程序，因不引入新的测试设备，其测试成本低，速度快，环境简单。本发明可以显著遏制芯片量产测试的正常波动对于量产测试的干扰作用，从S参数交流信号角度深度拦截了具有失效风险的芯片，从而降低了芯片的早期失效率。