简介： 本申请涉及存储器的设计与制造领域，具体而言，涉及一种存储器测试方法、设备及系统。本申请实施例提供的存储器测试方法，包括：根据上位机发送的测试方式指示信息，生成目标存储区域中每个存储位对应的测试数据，目标存储区域位于被测存储器中；针对目标存储区域中的每个存储位，将存储位对应的测试数据写入存储位中；从目标存储区域中的每个存储位中读取实际数据；对目标存储区域中每个存储位对应的测试数据和实际数据进行对比，获得地址失效测试结果。本申请实施例提供的存储器测试方法能够实现被测存储器的地址失效测试，且能够保证被测存储器的地址失效测试效率。