简介： 本申请涉及一种芯片测试设备、系统、芯片及蓝牙耳机。其中，芯片测试设备包括控制单元、扫描链、数据选择设备和寄存器设备；数据选择设备包括第一数据选择器、第二数据选择器和第三数据选择器；寄存器设备包括第一寄存器和第二寄存器；在芯片内部引入输入旁路直接连通到芯片扫描输出的路径，可以将自动化测试设备寄生应引起时序变化导致的失效与芯片本身缺陷引起的失效区分开，便于快速定位失效原因。芯片测试数据通过自动测试设备发送，只经过两级移位寄存器，便于同时观察自动测试设备的输入/输出状态，没有经过扫描链而直接送出，可以快速将扫描链的缺陷引起的失效与测试机的寄生干扰引起的失效区分开。