简介： 本发明公开了一种硅片级别的频率测试方法,是在专门进行存储器类型芯片测试的测试仪,即存储器测试仪上利用其自身带有的失效地址内存资源进行频率测试,至少包括以下步骤为:选择扫描频率,对待测波形进行扫描;选择参考电压,将扫描得到的模拟信号转化为数字信号;利用失效地址资源对上述数字信号进行存储;对存储的数据进行处理,计算出固定时间内的周期个数,最后进行频率计算。本发明是直接利用存储器类型测试仪进行频率测试,扩展了存储器测试仪的测试功能、提升了其利用率,降低了测试成本。