简介:
本发明实施例公开了一种存储设备寿命预测、确定方法及装置,所述预测方法包括:获取存储设备的累计失效数据块数量,以及,与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数;判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值;当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时,利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型;利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。该方法不再是为存储设备设置一个固定的擦写次数门限值,而是结合存储设备在使用过程中的累计失效数据块数量,以及,累计擦写次数,因此,可以准确确定一个符合该存储设备的实际使用情况的擦写次数阈值。
本发明实施例公开了一种存储设备寿命预测、确定方法及装置,所述预测方法包括:获取存储设备的累计失效数据块数量,以及,与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数;判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值;当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时,利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型;利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。该方法不再是为存储设备设置一个固定的擦写次数门限值,而是结合存储设备在使用过程中的累计失效数据块数量,以及,累计擦写次数,因此,可以准确确定一个符合该存储设备的实际使用情况的擦写次数阈值。