简介： 一种用于半导体设备的测试方法,所述半导体设备设置有使用由第一编码和第二编码组成的乘积码以实现存储器的纠错的ECC电路,所述测试方法包括以下步骤:获得通过分别根据第一编码和第二编码的独立校正操作实现的第一通过/失效确定结果和第二通过/失效确定结果;将该结果分别记录在第一失效存储器和第二失效存储器中;执行与第一失效存储器的内容与第二失效存储器的内容有关的指定逻辑运算,如与运算;并根据逻辑运算的结果,对失效位和潜在失效位进行补救。